Сотрудник подразделения
Публикации
- 5Saraeva I.N., Kudryashov S.I., Rudenko A.A., Zhil’Nikova M.I., Ivanov D.S., Zayarnyi D.A., Simakin A.V., Ionin A.A., Garcia M.E. Effect of fs/ps laser pulsewidth on ablation of metals and silicon in air and liquids, and on their nanoparticle yields // Applied Surface Science - 2019, Vol. 470, pp. 1018-1034 [IF: 3.387, SJR: 1.295]
подробнее >> - 4Ivanov D.S., Blumenstein A., Rethfeld B.-., Veiko V.P., Yakovlev E.B., Garcia M. Nanoscale structures generation within the surface layer of metals with short uv laser pulses // Научно-технический вестник информационных технологий, механики и оптики [Scientific and Technical Journal of Information Technologies, Mechanics and Optics] - 2017, Vol. 17, No. 1(107), pp. 1–15
подробнее >> - 3Polyakov D.S., Yakovlev E.B., Ivanov D.S. Specifics of Electron–Ion Heat Exchange under Intense Photoexcitation of Dielectrics with Ultrashort Laser Pulses // Technical Physics Letters - 2017, Vol. 43, No. 3, pp. 247-250 [IF: 0.771, SJR: 0.338]
подробнее >> - 2Поляков Д.С., Яковлев Е.Б., Иванов Д.С. Особенности электрон-ионного теплообмена в условиях интенсивного фотовозбуждения диэлектриков ультракороткими лазерными импульсами // Письма в Журнал технической физики - 2017. - Т. 43. - № 5. - С. 31-38 [IF: 0.599]
подробнее >>Проведен анализ скорости обмена энергией между перегретыми электронами и решеткой при воздействии ультракороткого лазерного импульса на диэлектрики для случая рассеяния электронов на деформационном потенциале акустических фононов и поляризационном потенциале оптических фононов. Определены температурные и концентрационные зависимости возникающего теплового потока, предложены аналитические выражения для их аппроксимации. Приведены оценки для диоксида кремния.
- 1Ivanov D.S., Lipp V.P., Blumenstein A., Kleinwort F., Veiko V.P., Yakovlev E.B., Roddatis V.V., Garcia M.E., Rethfeld B., Ihlemann J., Simon P. Experimental and theoretical investigation of periodic nanostructuring of Au with ultrashort UV laser pulses near the damage threshold // Physical Review Applied - 2015, Vol. 4, No. 6, pp. 064006 [IF: 4.808, SJR: 1.883]
подробнее >>