en

Сканирующий зондовый микроскоп Nanoeducator

   

 

Сканирующий зондовый микроскоп используется для исследования микро- и наноразмерных структур, которые сложно, либо невозможно исследовать с помощью оптической микроскопии, на поверхности различных материалов с высоким разрешением.

 

Предел измерений линейного размера - 90 мкм 
Предел измерений по оси Z - 8 мкм 
Разрешение в плоскости XY - 30 нм 
Разрешение по оси Z - 10 нм 
Максимальное число точек сканирования - 512x512